涂層測(cè)厚儀在使用過(guò)程中有什么要求

  涂層測(cè)厚儀在使用過(guò)程中有什么要求？下面大家總結(jié)了以下幾點(diǎn)：

  1、對(duì)于磁性基體的金屬特性，規(guī)范片的基體金屬的磁性和和試件基體金屬的磁性相同，以及表面粗糙度也相似。對(duì)于渦流方法，規(guī)范片基體金屬與試件基體金屬的電性質(zhì)也是相似的。

  2、要確?；w金屬厚度檢查基體金屬厚度有沒有超過(guò)超過(guò)臨界厚度，假如沒有，就可以采用1點(diǎn)，或者2點(diǎn)方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

  3、邊緣效應(yīng)不能在緊靠試件的突變處，比如說(shuō)邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處來(lái)進(jìn)行測(cè)量。

  4、曲率不能在工件的彎曲外表上測(cè)量。

  5、每次測(cè)量的讀數(shù)可能不完全相同，一般是由于操作手法和基體的均勻度造成的，所以在使用涂層測(cè)厚儀的有必要再每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。還有就是覆蓋層厚度的不均勻，也要求我們?cè)跍y(cè)量任一給定的面積內(nèi)要進(jìn)行多次測(cè)量，另外表粗造度也會(huì)影響測(cè)量金結(jié)果。

  6、在使用涂層測(cè)厚儀測(cè)量涂層之前，首先要清除表面上的任何附著物質(zhì)，比如說(shuō)塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，在清潔的時(shí)候要注意不能損壞需要測(cè)量的涂層。

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